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2011中国(西安)电子展
暨第十六届国际电子测试与测量专业研讨会


研讨会时间:2011年8月25日
展览会时间:2011年8月25-27日
会议主题
面向高端装备制造的新兴测试技术
会议日程


时间:2011年8月25日上午
地点:西安曲江国际会展中心A馆二楼2号会议室

时间

主题

演讲嘉宾

会议主持人: 中国电子仪器行业协会秘书长

09:00-09:05

宣布会议开始,介绍到会嘉宾

主办方领导致辞

09:10-09:30

我国电子仪器及电子信息产业的有关政策

工业和信息化部主管领导

09:30-10:00

自动测试系统的现状及趋势

中国电子学会电子测量与仪器分会秘书长,崔建平先生

10:00-10:20

基于先进仪表构建的技术资源平台

美国安捷伦科技有限公司,
高级应用工程师,樊红旭先生

10:20-10:50

平台化测试技术在高可靠性测试项目中的应用

北京泛华测控有限责任公司,
技术市场工程师,何进松女士

10:50-11:10

微波测试技术的新发展

西安电子科技大学,
王家礼教授

11:10-11:40

复杂电磁环境下的信号综合分析

德国罗德与施瓦茨公司,
产品工程师,蒋子彬先生

11:40-12:00

泰克最新测试测量解决方案

泰克科技(中国)有限公司,
高级客户经理,陈勇

12:00-12:20

计量校准技术在高端装备制造业中的发展

美国福禄克测试仪器有限公司,
高级工程师,赵勇

12:20-12:40

国防工业的新兴测试技术需求、关于军用测试系统标准化和技术体系问题的探讨

需方代表

12:40-13:00

现场抽奖,颁发奖品,工作午餐。

下午

参观“2011中国(西安)电子展”

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